systems test - translation to αραβικά
Diclib.com
Λεξικό ChatGPT
Εισάγετε μια λέξη ή φράση σε οποιαδήποτε γλώσσα 👆
Γλώσσα:

Μετάφραση και ανάλυση λέξεων από την τεχνητή νοημοσύνη ChatGPT

Σε αυτήν τη σελίδα μπορείτε να λάβετε μια λεπτομερή ανάλυση μιας λέξης ή μιας φράσης, η οποία δημιουργήθηκε χρησιμοποιώντας το ChatGPT, την καλύτερη τεχνολογία τεχνητής νοημοσύνης μέχρι σήμερα:

  • πώς χρησιμοποιείται η λέξη
  • συχνότητα χρήσης
  • χρησιμοποιείται πιο συχνά στον προφορικό ή γραπτό λόγο
  • επιλογές μετάφρασης λέξεων
  • παραδείγματα χρήσης (πολλές φράσεις με μετάφραση)
  • ετυμολογία

systems test - translation to αραβικά

APPARATUS USED IN HARDWARE TESTING
Automatic Test Equipment; Automated test equipment; ATE diagnostics; ATE Diagnostics; Semiconductor test equipment; Automatic Test Systems; Automatic test systems
  • [[Keithley Instruments]] Series 4200 CVU

systems test      
إختبار نظم
system analyst         
IT PROFESSIONAL WHO SPECIALIZES IN ANALYZING, DESIGNING AND IMPLEMENTING INFORMATION SYSTEMS
System analyst; Systems Analyst; Computer systems analyst; Computer Systems Analysts; Computer Systems Analyst
محلل نظم
computer systems analyst         
IT PROFESSIONAL WHO SPECIALIZES IN ANALYZING, DESIGNING AND IMPLEMENTING INFORMATION SYSTEMS
System analyst; Systems Analyst; Computer systems analyst; Computer Systems Analysts; Computer Systems Analyst
محلل نظم الأجهزة الحاسبة

Ορισμός

test case
(test cases)
A test case is a legal case which becomes an example for deciding other similar cases.
N-COUNT

Βικιπαίδεια

Automatic test equipment

Automatic test equipment or automated test equipment (ATE) is any apparatus that performs tests on a device, known as the device under test (DUT), equipment under test (EUT) or unit under test (UUT), using automation to quickly perform measurements and evaluate the test results. An ATE can be a simple computer-controlled digital multimeter, or a complicated system containing dozens of complex test instruments (real or simulated electronic test equipment) capable of automatically testing and diagnosing faults in sophisticated electronic packaged parts or on wafer testing, including system on chips and integrated circuits.